PENGGUNAAN X-RAY DIFRACTION DAN SOFTWARE PCPDFWIN UNTUK KARAKTERISASI SENYAWA DEPOSIT HASIL PELAPISAN ELECTOLESS NICKEL PHOSPHORUS

Ike Widyastuti

Abstract


Salah satu karakterisasi hasil pelapisan Electoless Nickel Phosphorus dilakukan menggunakan X-RayDiffraction (XRD) untuk mengetahui deposit yang terjadi di permukaan logam substrat.Hasil proses Electoless Nickel Phosphorus ini adalah deposit unsur Ni dan P tanpa terjadi difusi sehinggakekerasan yang rendah. Untuk itu perlu dilakukan proses perlakuan panas sehingga difusi dapat terjadiantara Ni dan P yang menghasilkan fasa atau senyawa Ni3P yang merupakan fasa keramik dan bersifatkeras berdasarkan analisa hasil pengujian XRD menggunakan alat bantu software PCPDFWIN.

Keywords


Electoless Nickel Phosphorus; X-Ray Diffraction; Ni3P, software PCPDFWIN

Full Text:

PDF

References


.............., 2003, Hardness of Electroless Nickel Deposits, http://www.component

technologiesinc.com/ sentinel.htm

..............., 2003, Electroless Nickel Plating, http://aimf.org.au/index.htm

ASM Handbook, 1992, Surface Engineering Vol.5, 9th edition

ASM Handbook, 1992, Material Characterization, Vol.10, 9th edition

Gutzeit, 1962, Catalytic Chemical Methods, Electroplating Engineering Handbook, Reinhold Book

Corp, 464-478

Pearlstein, 1974, Electroless Plating, Modern Electroplating, John Wiley & Sons, London,

-725

RE Smallman, RJ Bishop, 2000, Metalurgi Fisik Modern dan Rekayasa Material, Erlangga,

Jakarta

Syoni, et al, 1998, Pelapisan Elektroles Nikel Pada Paduan Aluminium 2024 Untuk Perlindungan

Korosi Pada Kemasan Elektronik, ITB, Bandung

W.Betteridge, 1984, Nickel And Its Alloy, Ellis Horwood Series Industrial Metals




DOI: https://doi.org/10.26905/jtmt.v3i1.4460

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


TRANSMISI

Universitas Merdeka Malang

Mailing Address:

Jalan Terusan Dieng 62-64 Malang, 65146, East Java, Indonesia
Phone: 081333961913 Fax: (0341) 560836
Email: [email protected]